4xc

4xc

Produktspezifikationen und Abmessungen – Übersicht über das metallurgische Computermikroskop 4XC-W: Das metallografische
Basisinformation.
Modell Nr.4Xc-W
MarkeYjm
ErkennungsmethodeOberflächeninspektionstechniken
Minimaler Messbereich0,001 m²/g
Automatische NoteHalbautomatisch
Wiederholbarkeit≤ ±1,5 %
ErkennungsprinzipStatische volumetrische Methode
TypMehrpunkt, metallographisch
AnwendungsbereichQualitätskontrolle
Pipeline-SystemIntegriert
BeobachtungssystemFernglas oder Drei-Augen-Kanister
KundendienstJa
Prinzip der OptikPolarisationsmikroskop
Fokussieren0,002 mm
OEMJa
FarbfilterGelbfilter, Grünfilter, Blaufilter
Ladeplattform180*150mm
DIP-Winkel30 Grad
Art von LichtquelleGewöhnliches Licht
Stereoskopischer EffektStereoskopischer Effekt
VerwendungLehre, Forschung
PrinzipOptik
FormRechteckiges Prisma
Anzahl der Zylinder≥Drei
MobilitätDesktop
Vergrößerung500-1000X
TransportpaketToolbox-Verpackung
Spezifikation4Xc-W
WarenzeichenYJM
HerkunftShangdong
HS-Code9011200000
Produktionskapazität5000000 Stück/Jahr
Produktbeschreibung

Produktspezifikationen und Abmessungen

Übersicht über das metallurgische Computermikroskop 4XC-W:

Das metallografische Computermikroskop 4XC-W ist ein invertiertes metallografisches Mikroskop mit drei Augen, das mit einem hervorragenden achromatischen Teleobjektiv mit anomalem Feld und einem Flachfeldokular mit großem Feld ausgestattet ist. Das Beleuchtungssystem verwendet den Kohler-Beleuchtungsmodus und die Beleuchtung des Sichtfelds ist gleichmäßig. Kompakte Struktur, bequeme und komfortable Bedienung. Es eignet sich zur mikroskopischen Beobachtung der metallografischen Struktur und Oberflächenmorphologie. Es ist ein ideales Instrument für das Studium der Metallologie, Mineralogie und Feinmechanik.

Beobachtungssystem:

Aufklappbarer Beobachtungszylinder: Binokularer Beobachtungszylinder, Einzelansicht einstellbar, 30° Neigung, bequem und schön. Drei-Augen-Beobachtungszylinder, kann an das Kameragerät angeschlossen werden. Okular: WF10X Weitfeld-Flachfeldokular mit Sichtfeld φ18 mm, das einen weiten und flachen Betrachtungsraum bietet.


Mechanische Ladeplattform:

Mechanische mobile Plattform, eingebaute rotierende kreisförmige Plattform, rotierende kreisförmige Plattform im Moment der Polarisationsbeobachtung, um den Anforderungen der Polarisationsmikroskopie gerecht zu werden.


Lichtsystem:

Im Cora-Beleuchtungsmodus können die Blendenöffnung und die Blendengröße des Sichtfelds per Drehknopf stufenlos und bequem angepasst werden. Der optionale Polarisator kann den Polarisationswinkel um 90° einstellen, um die mikroskopischen Bilder unter verschiedenen Polarisationszuständen zu betrachten.


Konfigurationstabelle für metallografische Computermikroskope 4XC-W:
AufbauKomplettes Maschinenmodell
KomponenteSpezifikation4XC-W
Optisches SystemOptisches System zur endlichen FernwirkkorrekturY
Beobachtungszylinder Aufklappbarer Fernglastubus, um 30° geneigt; Triokulartubus mit einstellbarem Pupillenabstand und Dioptrie.Y
Okular (Großansicht)WF10X(Φ18mm)Y
WF16X(Φ11mm)Ö
WF10X (Φ18 mm) Mit KreuzteilungslinealÖ
Standardobjektiv (achromatisches Objektiv mit langem anomalem Feld)PL L 10X/0,25 WD8,90mmY
PL L 20X/0,40 WD3,75mmY
PL L 40X/0,65 WD2,69 mmY
SP 100X/0,90 WD0,44 mm (Öl)Y
Optionales Objektiv (achromatisches Objektiv mit langem anomalem Feld)PL L50X/0,70 WD2,02mmÖ
PL L 60X/0,75 WD1,34mmÖ
PL L 80X/0,80 WD0,96mmÖ
PL L 100X/0,85 WD0,4mmÖ
KonverterVierloch-Konverter für Kugel-InnenpositionierungY
Fünf-Loch-Konverter für die interne Positionierung der KugelÖ
Fokussierungsmechanismus Grobe mikrokoaxiale Fokussierung, Feinabstimmung des Zellwerts: 0,002 mm; Verfahrweg (vom Fokus der Oberfläche der Ladeplattform): 30 mm. Die Grobwirkung ist mit Verriegelungs- und Begrenzungsvorrichtungen einstellbarY
LadeplattformDoppelschichtiges mechanisches Mobil (Größe: 180 mm x 150 mm, mobiler Bereich: 15 mm x 15 mm)Y
Lichtsystem6V 20W Halogenlampe mit einstellbarer HelligkeitY
Polarisiertes ZubehörPolarisierende Spiegelgruppe und polarisierende SpiegelgruppeÖ
FarbfilterGelbfilter, Grünfilter, BlaufilterY
Metallographisches AnalysesystemJX2016 metallografische Analysesoftware, 3 Millionen Kameragerät, 0,5-fache Spiegelschnittstelle, MikrometerY
ComputerHP BusinessjetÖ
Hinweis: „Y“ ist die Standardkonfiguration; „O“ ist ein optionales Element

Übersicht über die metallografische Bildanalysesoftware JX2016:

Das im metallografischen Bildanalysesystem konfigurierte „Professionelle quantitative metallografische Bildanalyse-Computer-Betriebssystem“ verarbeitet und vergleicht, erkennt, bewertet, analysiert, berechnet und gibt grafische und grafische Berichte auf dem Atlas der gesammelten Proben aus. Software-Integration der heutigen fortschrittlichen Bildanalysetechnologie, die perfekte Kombination aus metallografischem Mikroskop und intelligenter Analysetechnologie, die Systemmessung, Auswertungsergebnisse schnell und korrekt, im Einklang mit dem nationalen Standard (GB) und anderen relevanten Industriestandards (JB/ YB/ HB). / QC/ DL/ DJ/ ASTM usw.). System mit vollständig chinesischer Schnittstelle, einfach und leicht zu bedienen, nach einer einfachen Schulung oder Kontrolle der Bedienungsanleitung können Sie frei arbeiten. Und für das Studium der Metallographie bietet der gesunde Menschenverstand und die populäre Bedienung einen schnellen Weg.

Funktionen der metallografischen Bildanalysesoftware JX2016:

Bildbearbeitungssoftware: Bilderfassung, Bildspeicherung und mehr als zehn weitere Funktionen;

Bildsoftware: Bildverbesserung, Bildüberlagerung und mehr als zehn weitere Funktionen;

Bildmesssoftware: Umfang, Fläche, Prozentsatz und weitere Dutzende Messfunktionen;

Ausgabemodus: Datenformularausgabe, Histogrammausgabe, Bildausdruck.

Spezielles metallurgisches Softwarepaket:

Bewertung der Korngrößenmessung (Korngrenzenextraktion, Korngrenzenrekonstruktion, einphasig, zweiphasig, Korngrößenmessung, Bewertung);

Messung und Bewertung nichtmetallischer Einschlüsse (einschließlich Sulfide, Oxide, Silikate usw.);

Messung und Bewertung des Perlit- und Eisengehalts; Messung und Bewertung der Graphitknötchenbildungsrate von Kugelgraphitguss;

Entkohlungsschicht, Messung der Aufkohlungsschicht, Messung der Oberflächenschichtdicke;

Messung der Eindringtiefe der Schweißnaht;

Mittlere Phase aus Ferrit und austenitischem Edelstahl – Flächenmessung;

Analyse von primärem Silizium und eutektischem Silizium in Aluminiumlegierungen mit hohem Siliziumgehalt;

Analyse von Titanlegierungsmaterialien usw.

Es enthält metallografische Karten von fast 600 häufig verwendeten Metallmaterialien zum Vergleich, die den Anforderungen der metallografischen Analyse und Inspektion der meisten Einheiten gerecht werden.

Angesichts der zunehmenden Zahl neuer Materialien und importierter Materialien können Materialien und Bewertungsstandards, die nicht in der Software erfasst wurden, angepasst und eingegeben werden.

JX2016 Metallografische Bildanalysesoftware für Windows-Version:

Win 7 Professional Edition und Flagship Edition Win 10 Professional Edition und Flagship Edition





Anzeige der realen Szene des UnternehmensAnzeige der Expansionsaktivitäten des Unternehmens

4xc-W Computer Type High Precision Metalloscope with Image System, Inverted Metallographic Microscope with Three - Eye, Binocular Canister