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4xc
Basisinformation.
Modell Nr. | 4Xc-W |
Marke | Yjm |
Erkennungsmethode | Oberflächeninspektionstechniken |
Minimaler Messbereich | 0,001 m²/g |
Automatische Note | Halbautomatisch |
Wiederholbarkeit | ≤ ±1,5 % |
Erkennungsprinzip | Statische volumetrische Methode |
Typ | Mehrpunkt, metallographisch |
Anwendungsbereich | Qualitätskontrolle |
Pipeline-System | Integriert |
Beobachtungssystem | Fernglas oder Drei-Augen-Kanister |
Kundendienst | Ja |
Prinzip der Optik | Polarisationsmikroskop |
Fokussieren | 0,002 mm |
OEM | Ja |
Farbfilter | Gelbfilter, Grünfilter, Blaufilter |
Ladeplattform | 180*150mm |
DIP-Winkel | 30 Grad |
Art von Lichtquelle | Gewöhnliches Licht |
Stereoskopischer Effekt | Stereoskopischer Effekt |
Verwendung | Lehre, Forschung |
Prinzip | Optik |
Form | Rechteckiges Prisma |
Anzahl der Zylinder | ≥Drei |
Mobilität | Desktop |
Vergrößerung | 500-1000X |
Transportpaket | Toolbox-Verpackung |
Spezifikation | 4Xc-W |
Warenzeichen | YJM |
Herkunft | Shangdong |
HS-Code | 9011200000 |
Produktionskapazität | 5000000 Stück/Jahr |
Produktbeschreibung
Produktspezifikationen und Abmessungen
Übersicht über das metallurgische Computermikroskop 4XC-W:
Das metallografische Computermikroskop 4XC-W ist ein invertiertes metallografisches Mikroskop mit drei Augen, das mit einem hervorragenden achromatischen Teleobjektiv mit anomalem Feld und einem Flachfeldokular mit großem Feld ausgestattet ist. Das Beleuchtungssystem verwendet den Kohler-Beleuchtungsmodus und die Beleuchtung des Sichtfelds ist gleichmäßig. Kompakte Struktur, bequeme und komfortable Bedienung. Es eignet sich zur mikroskopischen Beobachtung der metallografischen Struktur und Oberflächenmorphologie. Es ist ein ideales Instrument für das Studium der Metallologie, Mineralogie und Feinmechanik.
Beobachtungssystem:
Aufklappbarer Beobachtungszylinder: Binokularer Beobachtungszylinder, Einzelansicht einstellbar, 30° Neigung, bequem und schön. Drei-Augen-Beobachtungszylinder, kann an das Kameragerät angeschlossen werden. Okular: WF10X Weitfeld-Flachfeldokular mit Sichtfeld φ18 mm, das einen weiten und flachen Betrachtungsraum bietet.
Mechanische Ladeplattform:
Mechanische mobile Plattform, eingebaute rotierende kreisförmige Plattform, rotierende kreisförmige Plattform im Moment der Polarisationsbeobachtung, um den Anforderungen der Polarisationsmikroskopie gerecht zu werden.
Lichtsystem:
Im Cora-Beleuchtungsmodus können die Blendenöffnung und die Blendengröße des Sichtfelds per Drehknopf stufenlos und bequem angepasst werden. Der optionale Polarisator kann den Polarisationswinkel um 90° einstellen, um die mikroskopischen Bilder unter verschiedenen Polarisationszuständen zu betrachten.
Konfigurationstabelle für metallografische Computermikroskope 4XC-W:
Aufbau | Komplettes Maschinenmodell | |
Komponente | Spezifikation | 4XC-W |
Optisches System | Optisches System zur endlichen Fernwirkkorrektur | Y |
Beobachtungszylinder | Aufklappbarer Fernglastubus, um 30° geneigt; Triokulartubus mit einstellbarem Pupillenabstand und Dioptrie. | Y |
Okular (Großansicht) | WF10X(Φ18mm) | Y |
WF16X(Φ11mm) | Ö | |
WF10X (Φ18 mm) Mit Kreuzteilungslineal | Ö | |
Standardobjektiv (achromatisches Objektiv mit langem anomalem Feld) | PL L 10X/0,25 WD8,90mm | Y |
PL L 20X/0,40 WD3,75mm | Y | |
PL L 40X/0,65 WD2,69 mm | Y | |
SP 100X/0,90 WD0,44 mm (Öl) | Y | |
Optionales Objektiv (achromatisches Objektiv mit langem anomalem Feld) | PL L50X/0,70 WD2,02mm | Ö |
PL L 60X/0,75 WD1,34mm | Ö | |
PL L 80X/0,80 WD0,96mm | Ö | |
PL L 100X/0,85 WD0,4mm | Ö | |
Konverter | Vierloch-Konverter für Kugel-Innenpositionierung | Y |
Fünf-Loch-Konverter für die interne Positionierung der Kugel | Ö | |
Fokussierungsmechanismus | Grobe mikrokoaxiale Fokussierung, Feinabstimmung des Zellwerts: 0,002 mm; Verfahrweg (vom Fokus der Oberfläche der Ladeplattform): 30 mm. Die Grobwirkung ist mit Verriegelungs- und Begrenzungsvorrichtungen einstellbar | Y |
Ladeplattform | Doppelschichtiges mechanisches Mobil (Größe: 180 mm x 150 mm, mobiler Bereich: 15 mm x 15 mm) | Y |
Lichtsystem | 6V 20W Halogenlampe mit einstellbarer Helligkeit | Y |
Polarisiertes Zubehör | Polarisierende Spiegelgruppe und polarisierende Spiegelgruppe | Ö |
Farbfilter | Gelbfilter, Grünfilter, Blaufilter | Y |
Metallographisches Analysesystem | JX2016 metallografische Analysesoftware, 3 Millionen Kameragerät, 0,5-fache Spiegelschnittstelle, Mikrometer | Y |
Computer | HP Businessjet | Ö |
Hinweis: „Y“ ist die Standardkonfiguration; „O“ ist ein optionales Element |
Übersicht über die metallografische Bildanalysesoftware JX2016:
Das im metallografischen Bildanalysesystem konfigurierte „Professionelle quantitative metallografische Bildanalyse-Computer-Betriebssystem“ verarbeitet und vergleicht, erkennt, bewertet, analysiert, berechnet und gibt grafische und grafische Berichte auf dem Atlas der gesammelten Proben aus. Software-Integration der heutigen fortschrittlichen Bildanalysetechnologie, die perfekte Kombination aus metallografischem Mikroskop und intelligenter Analysetechnologie, die Systemmessung, Auswertungsergebnisse schnell und korrekt, im Einklang mit dem nationalen Standard (GB) und anderen relevanten Industriestandards (JB/ YB/ HB). / QC/ DL/ DJ/ ASTM usw.). System mit vollständig chinesischer Schnittstelle, einfach und leicht zu bedienen, nach einer einfachen Schulung oder Kontrolle der Bedienungsanleitung können Sie frei arbeiten. Und für das Studium der Metallographie bietet der gesunde Menschenverstand und die populäre Bedienung einen schnellen Weg.
Funktionen der metallografischen Bildanalysesoftware JX2016:
Bildbearbeitungssoftware: Bilderfassung, Bildspeicherung und mehr als zehn weitere Funktionen;
Bildsoftware: Bildverbesserung, Bildüberlagerung und mehr als zehn weitere Funktionen;
Bildmesssoftware: Umfang, Fläche, Prozentsatz und weitere Dutzende Messfunktionen;
Ausgabemodus: Datenformularausgabe, Histogrammausgabe, Bildausdruck.
Spezielles metallurgisches Softwarepaket:
Bewertung der Korngrößenmessung (Korngrenzenextraktion, Korngrenzenrekonstruktion, einphasig, zweiphasig, Korngrößenmessung, Bewertung);
Messung und Bewertung nichtmetallischer Einschlüsse (einschließlich Sulfide, Oxide, Silikate usw.);
Messung und Bewertung des Perlit- und Eisengehalts; Messung und Bewertung der Graphitknötchenbildungsrate von Kugelgraphitguss;
Entkohlungsschicht, Messung der Aufkohlungsschicht, Messung der Oberflächenschichtdicke;
Messung der Eindringtiefe der Schweißnaht;
Mittlere Phase aus Ferrit und austenitischem Edelstahl – Flächenmessung;
Analyse von primärem Silizium und eutektischem Silizium in Aluminiumlegierungen mit hohem Siliziumgehalt;
Analyse von Titanlegierungsmaterialien usw.
Es enthält metallografische Karten von fast 600 häufig verwendeten Metallmaterialien zum Vergleich, die den Anforderungen der metallografischen Analyse und Inspektion der meisten Einheiten gerecht werden.
Angesichts der zunehmenden Zahl neuer Materialien und importierter Materialien können Materialien und Bewertungsstandards, die nicht in der Software erfasst wurden, angepasst und eingegeben werden.
JX2016 Metallografische Bildanalysesoftware für Windows-Version:
Win 7 Professional Edition und Flagship Edition Win 10 Professional Edition und Flagship Edition
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